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臺式光譜儀

簡要描述₪·╃☁•:Belec IN-SPECT是用於金屬分析的新型緊湊型固定光譜儀↟··。標準配置的惰性氣體流動的光學光譜室↟₪│╃,和對分析要求的不斷最佳化使得裝置富有吸引力↟··。同時↟₪│╃,Belec IN-SPECT為使用者提供了高效能和準確性↟··。
連同其它配件一起↟₪│╃,裝置顯示了一個真正的分析單元↟₪│╃,取代傳統的笨重而龐大的系統↟··。

  • 產品型號₪·╃☁•:Belec IN-SPECT
  • 廠商性質₪·╃☁•:生產廠家
  • 更新時間₪·╃☁•:2022-11-08
  • 訪  問  量₪·╃☁•:677

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詳細介紹

臺式光譜儀


Belec IN-SPECT是用於金屬分析的新型緊湊型固定光譜儀↟··。 臺式儀器以壓縮的方式將複雜的實驗室儀器的大部分功能結合在一起↟··。

產品功能

•新型的5GSO系統提高整體分析效能(第5代光譜儀光學系統)

•新型的探測器↟₪│╃,*展現在光譜學的應用

•結構緊湊

•服務和操作方面人性化設計

•低檢測下限的精度

•易於操作的Belec Win 21軟體

•開放式火花臺

•富有吸引力的設計

•專業人員的安裝和指導


Belec IN-SPECT是所有中小型企業具有吸引力的合作伙伴↟··。 標準配置的惰性氣體流動的光學光譜室↟₪│╃,和對分析要求的不斷最佳化使得裝置富有吸引力↟··。

同時↟₪│╃,Belec IN-SPECT為使用者提供了高效能和準確性↟··。連同其它配件一起↟₪│╃,裝置顯示了一個真正的分析單元↟₪│╃,取代傳統的笨重而龐大的系統↟··。整合光譜儀↟₪│╃,包含新型的5GSO系統↟₪│╃,由BELEC工程師設計↟₪│╃,可以在任何型別的光譜線同時應用時也不會出現相互的干擾↟··。

從現在開始↟₪│╃,每日的校正程式都已成為歷史↟₪│╃,新的MCDC系統(多通道漂移校正)可以自動地實現↟··。一次漂移校正可以在幾個星期內保持良好的結果↟··。

Belec IN-SPECT適用於實驗室操作↟··。 所需空間很小↟₪│╃,使得可以將儀器放置在幾乎任何可能的位置↟··。


光學

•帕刑-龍格裝置光譜室

•羅蘭圓直徑300mm

•可用波長145-410 nm

•光柵↟₪│╃,3600線/ mm

•色散率0.9 nm / mm(1次)

•耐衝擊

•恆溫探測器配備波長入射視窗(US許可)

•整合噪聲補償

•寬7μ畫素最佳化線分離

•一個基體模組*校正↟₪│╃,延伸到幾乎無限的額外基體模組

•無限數量的元素通道

•惰性氣體光譜室帶淨化系統

•可選配置為₪·╃☁•:真空光譜室代替惰性氣體交換光譜室

光源

•火花發生器的最大頻率400 Hz

•單極放電

•透過軟體控制預火花引數和整合資料引數

•透過軟體控制點火頻率程式

•透過軟體控制放電功率程式

•點火電壓20 kV

測量臺

•為精確分析的氬氣流測量臺

•火花測量臺上帶Ø10mm分析口↟₪│╃,可選帶Ø4mm分析口的陶瓷或金屬墊片

•可配合線材↟✘▩、管材和小零件的介面卡使用

•低損鎢電極

•氣動試樣夾具

•氬氣流量待機時0.1 l / min↟₪│╃,分析時2 l / min

•免維護

電子器件

•10個探測器↟₪│╃,每個3648畫素↟₪│╃,寬7μ畫素

•溫度穩定↟₪│╃,精確到0.1°C

•每個探測器都有獨立的AD轉換器↟₪│╃,安裝在多通道板上↟₪│╃,以高速通用USB埠連線

•整合噪聲抑制 - 整合背景補償

•無限數量的測量通道↟₪│╃,可配置多個基體

尺寸

•寬30.5英寸(775毫米)

•高14.9英寸(380毫米)

•深度23.6英寸(600毫米)附加6.1英寸(155毫米)的火花臺

重量

•分析單元152.1磅 (69kg)附加顯示器和鍵盤

電源

•230V / 50Hz或110V / 60Hz

•100 W待機時

•600 W分析時

真空系統電源(可選)

•600 W待機時

•1100W分析時

計算機硬體

•系統整合工業計算機系統

•Intel®Core®Duo T7400(2.16 GHz↟₪│╃,4MBL2)

•2 GB DDR2 SD RAM記憶體

•2.5“硬碟60 GB

•19“彩色顯示器↟₪│╃,其他尺寸也可用

•全尺寸外接鍵盤

•USB 2.0埠

•乙太網介面

軟體

通用作業系統↟₪│╃,例如MS Windows 7

•遠端服務系統(RSS)

•每次測量都會顯示分析值

•可以根據客戶要求設計不同分析程式

•每個分析程式都有獨立的分析引數

•自動選擇程式(APF)

•分析計算₪·╃☁•:背景修正↟₪│╃,曲線位置修正↟₪│╃,乘和加相互修正

•以標準型別進行自動修正(型別校準)

•容易同時進行多個程式的重校正(BGR)

•混料分選透過與參考工件的測量資料進行比較

•牌號分析是與預設的牌號範圍進行比較

•型別校正和型別測量

•每個分析程式在相對和絕對含量的公差↟₪│╃,可調整

•可選測量結果的平均和標準偏差

•當資料超過校正曲線時↟₪│╃,會有報警訊號

•輕鬆的同時重新校準幾個程式

•透過使用MCDC(多通道漂移校正)延長重校正所需的週期

•自動提示定期重校正

•自動顯示牌號或物料號

•合金牌號資料庫可達100.000個或以上(取決於計算機儲存量)

•顯示器上文字的大小可變↟₪│╃,以達到良好的清晰度

•自動儲存功能



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